JK2000X系列 晶體管電性測(cè)試系統(tǒng)
關(guān)鍵詞：靜態(tài)參數(shù)以及IV曲線、MOS管測(cè)試儀
產(chǎn)品描述：是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合半導(dǎo)體功率器件測(cè)試的多年經(jīng)驗(yàn)，以及眾多國(guó)內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后，完全自主開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“晶體管電性測(cè)試系統(tǒng)”。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。能測(cè)很多電子元器件靜態(tài)參數(shù)以及IV曲線掃描如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，繼電器，穩(wěn)壓器
